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多功能掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業級的原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

快速掃描探針顯微鏡HR-AFM是一款專業級的高分辨率原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

便攜式原子力顯微鏡可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

AFM拉曼聯用系統可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構（納米級別）；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。

葛蘭帕國產版HR-AFM原子力顯微鏡HR-AFM是一款專業級的多功能原子力顯微鏡，Z軸噪音低于35皮米。該設備可以在不破壞樣品內部結構的情況下觀測樣品微區三維形貌和多相結構；同時可對樣品表面物理化學特性進行研究，數值測定與分析。